화학과 기기분석1 ㄴ교수님 2012년 2번째 시험

2012-2 (총 108점)

 

(1)(10점) 원자분광법(atomic spectroscopy)에서 쓰이는 원자화(atomization) 방법 중 flame, ETV, ICP에 대하여 설명하시오.

 

(2)(10점) 옆 그림은 폐수 속에 있는 수은을 정량하기 위한 자동화 장치이다. 어떤 원리로 작동하는지 그림과 연관지으며 설명하시오.

(3)(10점) 속빈 음극등의 작동 원리 및 왜 속빈 음극등을 AAS에서 사용하는지를 설명하시오.

 

(4)(9점) 옆 그림은 다양한 농도의 K를 첨가하였을 때의 원자흡수분광법에서의 Sr의 검정곡선이다. 첨가한 K 농도가 커질수록 Sr의 검정감도가 증가하는 이유는 무엇인가? 또, N2O-acetylene 불꽃에서 air-acetylene에서 보다 더 감도가 높은 이유는 무엇인가?

(5)(12점) 옆 그림은 기체-충전 검출기에 대한 기체 증폭에 대한 것이다. 본인이 교수라고 가정하고 가상의 학생에게 그림에 대하여 설명하시오.

(6)(9점) X-선 형광법(XRF)에서, 파장분산형, 에너지분산형, 비분산형 기기들이 존재한다. textbook에 예로 든 것들을 간략히 요약, 설명하시오.

 

(7)(8점) X-선 회절법에 대하여 그 원리 및 대략의 기기 장치를 쓰시오.

 

(8)(8점) AES(Auger 전자 분광법)의 원리와 기기 장치에 대하여 설명하시오.

 

(9)(8점) 옆그림은 ethyl trifluoroacetate의 C 1s의 XPS spectrum이다. 각 탄소(번호로 구별하였음)에 해당하는 XPS peak(a-d로 구별하였음)를 짝 짓고, XPS에서 이와같이 chemical shift(화학적 이동)이 일어나는 이유를 설명하시오.

(10)(10점) STM(scanning tunneling microscopy, 주사터널현미경)과 AFM(atomic force microscopy, 원자힘현미경)의 원리를 간략히 설명하시오.

 

(11)(14점)다음에 열거하는 약자들의 영어명(full name)을 써 보시오.

(예: EDX --> energy dispersive X-ray spectrometry)

(1) AAS, AES(원자분광법 종류), AFS

(2) XRF, XRD (3) XPS, ESCA, UPS, AES(표면 분석 방법 종류)

(4) SIMS

(5) SEM (6) SPM, STM, AFM