화학과 기기분석1 ㄴ 교수님 2016년 2번째 시험

2016-2 (총 110점 - 갹 항목 10점씩)

 

(1) 원자선 띠나비 넓힘(excitation light의 line broadening)에 영향을 미치는 3가지 요인, 즉 자연 선 넓힘, Doppler 넓힘, 압력 넓힘에 대하여 설명하시오.

 

(2) electrothermal atomizer(전열 원자화 장치)의 작동원리와 장단점을 쓰시오.

 

(3) 유도쌍 플라즈마(ICP, Inductively Coupled Plasma)를 사용하여 시료를 원자화시킬 때, 원자화와 이온화 현상에 관련하여 불꽃원자화법에 비하여 여러 장점이 있는데 이들은 무엇인가?

 

(4) 첫번째 그림은 scanning Echelle spectrometer를 이용한 AES 기기 장치의 모식도이다. 분석이 어떻게 진행되는지 설명하시오.

(5) 옆의 그림은 납과 은의 X-선 흡수 스펙트럼을 보여주고 있다. mass absorption coefficient, K, L 표현들이 무얼 말하는지, 왜 흡수 스펙트럼이 파장에 따라 옆 그림처럼 나오는지 설명하시오.

(6) XRF(X-선 형광법)에서 ED-XRF와 WD-XRF가 주로 사용되는데, ED-XRF, WD-XRF는 무엇이며 WD-XRF에 비하여 ED-XRF의 장단점은 무엇인가?

 

(7) X-ray fluorescence method(X-선 형광법, XRF)에서 정량분석 시 보정해 주어야 하는 matrix effect(매트릭스 효과)로 absorption effect(흡수 효과)와 enhancement effect(증강 효과)가 있는데, Fe(원자번호 26), Co(27), Ni(28)의 혼합물 시료 분석에서 Co를 중심으로 설명해 보시오.

 

(8) XPS나 AES, EPMA 등의 표면분석법은 높은 진공 상태에서 측정한다. 그 이유는 무엇인가? 표면 분석을 위하여 시료 표면을 깨끗이 하는 3가지 방법은 무엇인가?

 

(9) 세번째 그림은 XPS에서의 S 2p의 binding energy가 S 원자의 화학 상태에 따라 다른 것을 보이는 그림이다. 왜 이러한 결과를 얻을 수 있는지 설명하시오.

(10) 옆 그림은 STM 응용례 중의 하나이다. 이 technique에 대해 설명하고, 이 연구의 의미는 무엇이지 설명하시오.

(11) 다음에 열거하는 약자들의 영어명(full name)을 써 보시오. (예: EDX --> energy dispersive X-ray spectrometry)

(1) AAS, AES(원자분광법 종류), AFS

(2) XRF, XRD

(3) XPS, ESCA, UPS, AES(표면 분석 방법 종류)

(4) SIMS

(5) SEM (6) SPM, STM, AFM